Группа общего рентгеноструктурного анализа

Автор: misdoctor  :  Рубрика: Рентген аппараты
Группа общего рентгеноструктурного анализа

Каждое кристаллическое вещество характеризуется собственной сеткой, определенным хим составом и определенным распределением атомов поэлементарной ячейке сетки. Геометрия сетки описывает собой набормежплоскостных расстояний (следовательно, брэгговских углов при дифракции на данном излучении). Особенность и распределение атомов описывает интенсивность дифрагированных полупрямых. В способе РФА, употребляющем явление дифракции рентгеновских полупрямых на кристаллической сетке, приспосабливается излучение с длиной волны порядка величины межатомных расстояний в кристалле.

При определенных критериях меж волнами, рассеянными отдельными электронами, за счет разности фаз возникает суммарная амплитуда рассеяния атомами. Кристалл можнож представить совокупой параллельных, равноотстоящих товарищ от товарища атомных плоскостей, ориентация тот или другой в кристалле задается индексами (hkl). В кристаллической сетке порядок параллельных плоскостей можнож проводить разным образом. Порядкам таковых плоскостей будут подходить определенные расстояния меж примыкающими плоскостями d (hkl) межплоскостные расстояния.

Волны, отраженные различными плоскостями, взаимодействуют меж собой — интерферируют. Результирующая интерференции когерентных волн обусловливается их амплитудами и условными фазами. Амплитуды волн, отраженных плоскостями одной серии, можнож считать схожими, ежели пренебречь ослаблением рентгеновского излучения при его проникновении в глубь кристалла. Условные фазы волн зависят от величины межплоскостного расстояния d (hkl) и угла падения полупрямой.

Иногда все плоскости отражают в одной фазе, т. е. разность хода сочиняет целое число длин волн = n, отраженные полупрямые будут усиливать товарищ товарища наибольшим образом. Уравнение Брэгга — Вульфа n = 2d (hkl ) sin указывает, что при отражении рентгеновского излучения с длиной волны от плоскостей с межплоскостным расстоянием d (hkl) дифракционные полупрямые появляются только под углами = arc sin(n / 2d (hkl ) ).

Целые числа n = 1, 2, 3… , показывающие, сколько длин волн укладывается в разности хода полупрямых, отраженных примыкающими плоскостями, именуют порядком отражения.

Традиционно рассчитывается отношение d ( hkl ) / n. В этом случае уравнение Брэгга — Вульфа воспринимает вид = 2d (hkl) sin. Высококачественный рентгенофазовый анализ содержится в идентификации кристаллических фаз на базе присущих им значений межплоскостных расстояний d(hkl) и соответственных интенсивностей линий I (hkl) рентгеновского диапазона. Рентгенофазовый анализ поликристаллических образчиков по дифракционным диапазонам приходит способом, включающим сравнение значений d (hkl) изучаемого эталона с надлежащими значениями d (hkl) справочных стандартов при высококачественном сопоставлении интенсивностей линий в диапазонах эталона и стандартов.

Любая кристаллическая фаза приносит постоянно однообразный дифракционный диапазон, характеризующийся комплектом межплоскостных расстояний d (hkl) и соответственных интенсивностей линий I (hkl ), присущим лишь предоставленной кристаллической фазе По дифракционному диапазону консистенции вероятна количественная оценка соотношения кристаллических фаз, присутствующих в изучаемом образчике Определять состояния твердого тела (кристаллическое, аморфное, аморфное с кристаллическими включениями, нанокристаллическое) Точность приобретенных результатов обусловливается длиной волны употребляемого излучения, величиной мало вероятного шага (в предоставленном случае он сочиняет 0. 01 град. ) и стабильностью употребляемых характеристик получения первичного пучка и регистрации дифрагированного либо растерянного. В зависимости от структуры исследуемого объекта точность определения неизменных сетки может сочинять ~10 12 нм.



Оставить комментарий

Вы должны войти для комментирования записи.